特許
J-GLOBAL ID:201303016988293174

蛍光測定用基板

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (2件): 三好 秀和 ,  高橋 俊一
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2012-102994
公開番号(公開出願番号):特開2013-231639
出願日: 2012年04月27日
公開日(公表日): 2013年11月14日
要約:
【課題】蛍光分析に十分な表面増強率を有し、かつ強固な構造を有する蛍光測定用基板を提供する。【解決手段】基板1の上に複数の微粒子2が固相化されており、複数の微粒子2をすべて覆うように、基板1上に金属層3が連続的に形成されている。連続的に形成された金属層3の一部には、突起部4が形成されている。前記金属層3は、前記基板の表面から前記微粒子表面にかけて連続的に形成されており、前記複数の微粒子2は、誘電体である。【選択図】図1
請求項(抜粋):
基板上に吸着された複数の微粒子と、前記複数の微粒子を埋包するように連続的に前記基板上に形成された金属層とを備え、前記金属層の一部は複数の突起部を有することを特徴とする蛍光測定用基板。
IPC (3件):
G01N 33/543 ,  G01N 21/64 ,  G01N 33/553
FI (4件):
G01N33/543 595 ,  G01N21/64 G ,  G01N33/553 ,  G01N33/543 575
Fターム (5件):
2G043AA03 ,  2G043BA16 ,  2G043CA04 ,  2G043DA02 ,  2G043EA01
引用特許:
出願人引用 (3件) 審査官引用 (3件)

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