特許
J-GLOBAL ID：201303033119517420
図面評価装置及び図面作成システム
発明者：
,
,
,
,
出願人/特許権者：
,
代理人 (2件)：
田澤 英昭
, 濱田 初音
公報種別：特許公報
出願番号（国際出願番号）：特願2005-268780
公開番号（公開出願番号）：特開2007-080078
特許番号：特許第4707513号
出願日： 2005年09月15日
公開日（公表日）： 2007年03月29日
請求項（抜粋）：
【請求項1】 CAD装置を利用して生成された図面のCADデータを取得するCADデータ取得手段と、上記CADデータ取得手段により取得されたCADデータを解析して、図面に描画されている部品の個数を識別するとともに、複数の部品が相互に干渉している箇所の個数を識別し、その部品の個数と干渉箇所の個数から部品の干渉率を算出する干渉率算出手段と、上記干渉率算出手段により算出された部品の干渉率を提示する提示手段とを備えた図面評価装置。
IPC (1件)：
FI (1件)：
引用特許：
前のページに戻る
