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J-GLOBAL ID：201402252467030427   整理番号：14A0100980

走査SQUID磁気顕微鏡

著者 (2件)： 宮戸祐治 (京大 大学院工学研究科) ,  糸崎秀夫 (ノースウェスタン大 大学院)
資料名： 生産と技術  (季刊誌生産と技術)
巻： 66  号： 1  ページ： 26-32  発行年： 2014年01月10日 
JST資料番号： F0270A  ISSN： 0387-2211  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 解説  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

抄録/ポイント： 超伝導量子干渉素子(SQUID)は,医療,地質調査,非破壊検査,材料研究,量子情報処理などに使用されている。本解説では,(高温超電導)HTS-SQUIDの磁気顕微鏡への応用について述べる。具体的には,磁気センサであるSQUIDを試料表面で走査する走査SQUID磁気顕微鏡,非磁性体の半導体デバイスの評価用としてのレーザSQUID顕微鏡,SQUID顕微鏡にSTMを組み合わせたSTM-SQUID磁気顕微鏡,および絶縁材料の観察が可能なAFM-SQUID磁気顕微鏡に関する応用と性能に関して述べる。

シソーラス用語： *走査型プローブ顕微鏡 ,  *高温超伝導体 ,  磁気センサ ,  試料 ,  磁性体 ,  半導体素子 ,  走査型トンネル顕微鏡 ,  絶縁材料 ,  原子間力顕微鏡 ,  *SQUID ,  磁気力顕微鏡 ,  絶縁体
準シソーラス用語： SQUID顕微鏡 ,  レーザSQUID顕微鏡 ,  *走査型SQUID顕微鏡 ,  非磁性体

分類 (3件)： 顕微鏡法  (BK01040E) ,  Josephson接合・素子  (BM04043E) ,  電子顕微鏡,イオン顕微鏡  (BD02050B)

引用文献 (16件)：

• R. Jaklevic, J. Lambe, A. Silver, and J. Mercereau, Phys. Rev. Lett. 12, 159 (1964).
• H. Saito, R. Sunahara, Y. Rheem, and S. Ishio, IEEE Trans. Magn. 41, 4394 (2005).
• K. Nagano, K. Tobari, M. Ohtake, and M. Futamoto, J. Phys. Conf. Ser. 303, 012014 (2011).
• J.R Kirtley, M.B. Ketchen, K.G. Stawiasz, J.Z. Sun, W.J. Gallagher, S.H. Blanton, and S.J. Wind, Appl. Phys. Lett. 66, 1138 (1995).
• M. Hayashi, H. Ebisawa, H. Thanh Huy, and T. Ishida, Appl. Phys. Lett. 100, 182601 (2012).

タイトルに関連する用語 (4件)： 走査 ,  SQUID ,  磁気 ,  顕微鏡