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J-GLOBAL ID：201402256987995935   整理番号：14A1297469

軟X線分光で液体中の分子を見る:電子状態から見た水素結合,錯体形成,化学平衡,液体構造の姿

著者 (1件)： 徳島高 (理研 放射光化学総合研究セ)
資料名： 日本化学会中国四国支部大会講演要旨集
巻： 2013  ページ： 31  発行年： 2013年11月16日 
JST資料番号： L1355B  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 短報  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

シソーラス用語： 放射光施設 ,  ビームライン ,  *軟X線 ,  *X線分光法 ,  発光分光法 ,  液体 ,  *電子状態 ,  励起状態 ,  緩和現象 ,  変化 ,  重水素 ,  ドーピング ,  化学組成 ,  添加物効果 ,  置換 ,  *水素結合 ,  *錯体生成 ,  *化学平衡 ,  *液体構造 ,  価電子 ,  分子軌道 ,  対称性 ,  炭酸イオン ,  吸光分光分析
準シソーラス用語： SPring-8 ,  スペクトル変化 ,  緩和過程 ,  吸収分光法 ,  錯体形成 ,  置換効果 ,  軟X線ビームライン ,  軟X線発光分光 ,  軟X線発光分光法

分類 (4件)： 分光分析  (CC03012W) ,  X線技術  (BA02060D) ,  液体構造一般  (BK02010E) ,  分子の電子構造  (BH05010Q)

タイトルに関連する用語 (9件)： 軟X線 ,  分光 ,  液体中 ,  分子 ,  電子状態 ,  水素結合 ,  錯体形成 ,  化学平衡 ,  液体構造