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J-GLOBAL ID：201402258389824622   整理番号：14A0512018

110億個のトランジスタの±5.4σを超える分布のテールにあるトランジスタの特性の解析

Analysis of Transistor Characteristics in Distribution Tails beyond ±5.4σ of 11 Billion Transistors

著者 (3件)： MIZUTANI Tomoko (Univ. Tokyo, Tokyo, JPN) ,  KUMAR Anil (Univ. Tokyo, Tokyo, JPN) ,  HIRAMOTO Toshiro (Univ. Tokyo, Tokyo, JPN)
資料名： Technical Digest. International Electron Devices Meeting  (Technical Digest. International Electron Devices Meeting)
巻： 2013  ページ： 826-829  発行年： 2013年 
JST資料番号： C0829B  ISSN： 0163-1918  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 短報  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 最新の技術のVLSIは,チップに10億個以上のトランジスタを含んでいる。その歩留りや回路の性能は,平均のトランジスタにより決まるのでなく,分布のテールにあるいくつかの異常なトランジスタによって制限される。それゆえ,それらのテールにあるトランジスタの特性が歩留り損失や回路の劣化を予測するために非常に重要である。本文では,110億個のトランジスタの分布テールにあるトランジスタを測定により調査し,分布の中心にあるトランジスタと比較した。その結果,いくつかのトランジスタが正規分布からはずれた異常に低いオン電流を示すことがわかった。測定結果と3Dデバイスシミュレーションに基づき,その異常な分布の原因と歩留り損失に及ぼす影響を検討した。

シソーラス用語： *トランジスタ ,  正規分布 ,  *超LSI ,  歩留り ,  計算機シミュレーション ,  標準偏差
準シソーラス用語： *VLSI ,  デバイスシミュレーション

分類 (2件)： トランジスタ  (NC03070N) ,  半導体集積回路  (NC03162T)

タイトルに関連する用語 (4件)： トランジスタ ,  分布 ,  テール ,  解析