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J-GLOBAL ID：201402270818979435   整理番号：14A1000353

新しい高機能表面電子顕微鏡の開発とダイナミック表面過程の観察

著者 (12件)： 越川孝範 (大阪電通大 エレクトロニクス基礎研) ,  鈴木雅彦 (大阪電通大 エレクトロニクス基礎研) ,  安江常夫 (大阪電通大 エレクトロニクス基礎研) ,  BAUER E. (Arizona State Univ.) ,  工藤和恵 (お茶の水女大) ,  小島一希 (大阪大) ,  DINO W. A. (大阪大) ,  笠井英明 (大阪大) ,  阿久津典子 (大阪電通大 工) ,  中西彊 (名古屋大) ,  金秀光 (名古屋大) ,  竹田美和 (科学技術交流財団 シンクロトロン光セ)
資料名： FERI Activity Report  (FERI Activity Report)
巻： 24  ページ： 74-86  発行年： 2014年03月31日 
JST資料番号： L6016A  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

抄録/ポイント： 低エネルギー電子顕微鏡(LEEM)に基づいた新しい高機能表面電子顕微鏡としてスピン偏極LEEM(SPLEEM)を開発した。これを利用してスピンエレクトロニクス薄膜材料として期待されている(CoNi)_y多層膜を観測した。入射スピン方向に依存した磁区のコントラスト変化を示した。LEEM像では単原子ステップが観測されているが,SPLEEM像では明瞭に磁区が観測できることが分かった。高輝度で高寿命のスピン銃を利用したSPLEEMでは0.02秒の露光時間でも磁区を観測できた。また,多層膜では垂直磁区異方性を観測した。この実験結果はLLG方程式のシミュレーションの結果と良く一致した。

シソーラス用語： スピントロニクス ,  コントラスト ,  方程式 ,  磁性体 ,  *電子顕微鏡 ,  低エネルギー領域 ,  *電子顕微鏡観察 ,  スピン分極 ,  微細構造 ,  表面構造 ,  多層膜 ,  コバルト合金 ,  ニッケル合金 ,  垂直磁化 ,  *磁性薄膜
準シソーラス用語： LEEM ,  LLG方程式 ,  SPLEEM ,  *スピン偏極低エネルギー電子顕微鏡

分類 (4件)： 電子顕微鏡,イオン顕微鏡  (BD02050B) ,  顕微鏡法  (BK01040E) ,  金属薄膜  (BK14030T) ,  磁性一般  (BM06010M)

タイトルに関連する用語 (4件)： 電子顕微鏡 ,  開発 ,  過程 ,  観察