特許
J-GLOBAL ID：201703013792985419
半導体装置及びその制御方法
発明者：
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出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
家入 健
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2015-123432
公開番号（公開出願番号）：特開2017-011424
出願日： 2015年06月19日
公開日（公表日）： 2017年01月12日
要約：
【課題】優先度の低い処理を省略することなく所望の処理を実行することが可能な半導体装置及びその制御方法を提供すること。【解決手段】一実施の形態によれば、再構成可能デバイス1は、複数の構成情報を格納する構成情報格納メモリ12と、複数の構成情報のうちの何れかを選択する状態遷移管理部11と、状態遷移管理部11によって選択された構成情報に基づいて動的に回路を再構成するデータパス部13と、を備え、状態遷移管理部11は、データパス部13に設けられたタイルT1,T2の何れにも故障が検出されない場合、タイルT1,T2を用いて第1処理回路が構成されるように構成情報を選択し、タイルT2に故障が検出された場合、故障が検出されていないタイルT1を用いて第1中間処理回路を構成した後、再びタイルT1を用いて第2中間処理回路を構成することで、第1処理回路が実現されるように構成情報を選択する。【選択図】図4
請求項（抜粋）：
複数の構成情報を格納する構成情報格納メモリと、
前記複数の構成情報のうちの何れかを選択する状態遷移管理部と、
前記状態遷移管理部によって選択された構成情報に基づいて動的に回路を再構成するデータパス部と、を備え、
前記状態遷移管理部は、
前記データパス部に設けられた複数の論理回路群の何れにも故障が検出されない場合、前記複数の論理回路群の一部又は全部を用いて第1処理回路が構成されるように前記構成情報を選択し、
前記複数の論理回路群の何れかに故障が検出された場合、前記複数の論理回路群のうち故障が検出されていない論理回路群の一部又は全部を用いて第1中間処理回路を構成した後、前記複数の論理回路群のうち故障が検出されていない論理回路群の一部又は全部を用いて第2中間処理回路を構成することで、前記第1処理回路が実現されるように前記構成情報を選択する、半導体装置。
IPC (1件)：
FI (1件)：
Fターム (7件)：
5J042BA01
, 5J042BA11
, 5J042BA16
, 5J042CA13
, 5J042CA19
, 5J042CA20
, 5J042DA00
出願人引用 (5件)
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審査官引用 (5件)
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