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J-GLOBAL ID：201902237785616988   整理番号：19A2598039

ケルビンプローブフォース顕微鏡によるアルキルフタロシアニン塗布薄膜の界面物性評価

著者 (5件)： 石裏遼 (大阪大 大学院) ,  藤井彰彦 (大阪大 大学院) ,  有田誠 (九大 大学院) ,  須藤孝一 (大阪大 産科研) ,  尾崎雅則 (大阪大 大学院)
資料名： 応用物理学会秋季学術講演会講演予稿集(CD-ROM)  (Extended Abstracts. JSAP Autumn Meeting (CD-ROM))
巻： 80th  ページ： ROMBUNNO.18a-E302-9  発行年： 2019年09月04日 
JST資料番号： Y0055B  ISSN： 2758-4704  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 短報  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

本文一部表示： 【諸言】アルキルフタロシアニン(C6PcH2)は溶液プロセスによる単結晶薄膜の作製が可能であり、電子デバイス応用が検討されている[1]。電子デバイス応用に向けては有機半導体材料と電極との界面物性が重要であるが[2]、溶液プロセスで作製される...【本文一部表示】

シソーラス用語： 原子間力顕微鏡 ,  *表面電位 ,  *有機半導体 ,  *半導体薄膜 ,  ウエハ【IC】 ,  ケイ素 ,  N型半導体 ,  膜厚
準シソーラス用語： Kelvinプローブ力顕微鏡 ,  *フタロシアニン誘導体 ,  シリコンウエハ

分類 (2件)： 半導体薄膜  (BK14040E) ,  界面の電気的性質一般  (BM03081H)

タイトルに関連する用語 (4件)： ケルビンプローブフォース顕微鏡 ,  薄膜 ,  界面物性 ,  評価