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J-GLOBAL ID：202002249958076559   整理番号：20A2237758

電子顕微鏡を用いた低次元材料の局所物性評価

Nanoscale spectroscopy of low-dimensional materials in electron microscope

著者 (2件)： 千賀亮典 (産業技術総合研) ,  末永和知 (産業技術総合研)
資料名： 応用物理学会春季学術講演会講演予稿集(CD-ROM)  (Extended Abstracts. JSAP Spring Meeting (CD-ROM))
巻： 67th  ページ： ROMBUNNO.13p-A401-7  発行年： 2020年02月28日 
JST資料番号： Y0054B  ISSN： 2436-7613  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 短報  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

本文一部表示： 低次元材料では、空孔やエッジなど非周期的構造によってその物性が大きく変わることが理論研究を中心に報告されている。これら非周期的構造がもたらす物性の変化を理解するためには、エキシトンやフォノンといった準粒子の欠陥での挙動に注目する必要がある...【本文一部表示】

シソーラス用語： 準粒子 ,  赤外線 ,  *電子顕微鏡 ,  *電子顕微鏡観察 ,  電子銃 ,  電子ビーム ,  フォノン ,  モノクロメータ ,  励起子 ,  振動モード ,  可視光 ,  透過型走査電子顕微鏡 ,  フォノン分散 ,  電子エネルギー損失分光法 ,  透過型電子顕微鏡
準シソーラス用語： 単色 , 【Automatic Indexing@JST】

分類 (2件)： 電子分光スペクトル  (BM09060K) ,  顕微鏡法  (BK01040E)

タイトルに関連する用語 (3件)： 電子顕微鏡 ,  低次元材料 ,  物性評価