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J-GLOBAL ID:202002285345451086   整理番号:20A1605459

中性子反射率測定によるSiO2,PtおよびC基板上のナフィオン薄膜の含水構造

Water Distributions inside Nafion Thin Films on SiO2, Pt, and C Substrates Analyzed by Neutron Reflectometry
著者 (14件):
資料名:
巻: 60th  ページ: ROMBUNNO.1C05  発行年: 2019年 
JST資料番号: L1273B  資料種別: 会議録 (C)
記事区分: 短報  発行国: 日本 (JPN)  言語: 日本語 (JA)
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SiO_2/Si(100),Pt/SiO_2/Si(100),およびC/SiO_...【JST・京大機械翻訳】【本文一部表示】
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分類 (1件):
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燃料電池 
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