文献
J-GLOBAL ID:200902000026195685
整理番号:87A0129080
CMOS回路における開路固定故障に対するロバスト検査生成アルゴリズム
Robust test generation algorithm for stuck-open fault in CMOS circuits.
著者 (2件):
MAO W
(Fudan Univ., Shanghai, CHN)
,
LING X
(Fudan Univ., Shanghai, CHN)
資料名:
Proceedings of the Design Automation Conference
(Proceedings of the Design Automation Conference)
巻:
23rd
ページ:
236-242
発行年:
1986年
JST資料番号:
D0553A
ISSN:
0738-100X
資料種別:
会議録 (C)
記事区分:
原著論文
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)