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著者 (2件)：
資料名：
巻： 1987 ページ： 48-51 発行年： 1987年
JST資料番号： D0858B ISSN： 1063-6404 資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 原著論文 発行国： アメリカ合衆国 (USA) 言語： 英語 (EN)
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文献
J-GLOBAL ID：200902000032664697
整理番号：88A0152136
検査発生のためのシミュレーションに基づく探索法
A simulation-based directed-search method for test generation.
CHENG K-T
(Univ. California, CA, USA)
,
AGRAWAL V D
(AT&T Bell Lab., NJ, USA)
資料名：
Proceedings. IEEE International Conference on Computer Design: VLSI in Computers & Processors
(Proceedings. IEEE International Conference on Computer Design: VLSI in Computers & Processors)
巻： 1987 ページ： 48-51 発行年： 1987年
JST資料番号： D0858B ISSN： 1063-6404 資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 原著論文 発行国： アメリカ合衆国 (USA) 言語： 英語 (EN)
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