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著者 (5件)：
資料名：
巻： 138 号： 11 ページ： 3470-3473 発行年： 1991年11月
JST資料番号： C0285A ISSN： 1945-7111 CODEN： JESOAN 資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文 発行国： アメリカ合衆国 (USA) 言語： 英語 (EN)
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文献
J-GLOBAL ID：200902000174402169
整理番号：92A0017377
MIS構造上のIn0.53Ga0.47As/Si3N4界面の電気的および構造的特性の相互関係
Correlation Between Electrical and Structural Characterization of In0.53Ga0.47As/Si3N4 Interfaces on MIS Structures.
LOPEZ-VILLEGAS J M
(Univ. Barcelona, Barcelona, ESP)
,
MORANTE J R
(Univ. Barcelona, Barcelona, ESP)
,
CORNET A
(Univ. Barcelona, Barcelona, ESP)
,
RENAUD M
(Lab. Electronique Philips, Limeil-Brevannes, FRA)
,
BOHER P
(Lab. Electronique Philips, Limeil-Brevannes, FRA)
資料名：
Journal of the Electrochemical Society
(Journal of the Electrochemical Society)
巻： 138 号： 11 ページ： 3470-3473 発行年： 1991年11月
JST資料番号： C0285A ISSN： 1945-7111 CODEN： JESOAN 資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文 発行国： アメリカ合衆国 (USA) 言語： 英語 (EN)
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