文献
J-GLOBAL ID:200902001859080934
整理番号:86A0158643
2次イオンおよびスパッタ中性質量分析法による固体の解析
Analysis of solids by secondary ion and sputtered neutral mass spectrometry.
著者 (3件):
GNASER H
(Kernforschungsanlage Juelich, Fed. Rep. Germany)
,
FLEISCHHAUER J
(Kernforschungsanlage Juelich, Fed. Rep. Germany)
,
HOFER W O
(Kernforschungsanlage Juelich, Fed. Rep. Germany)
資料名:
Applied Physics. A. Materials Science & Processing
(Applied Physics. A. Materials Science & Processing)
巻:
37
号:
4
ページ:
211-220
発行年:
1985年08月
JST資料番号:
D0256C
ISSN:
0947-8396
CODEN:
APHYCC
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
原著論文
発行国:
ドイツ (DEU)
言語:
英語 (EN)