文献
J-GLOBAL ID:200902001890241962
整理番号:87A0067580
電子材料やデバイスの腐食
Corrosion of electronic materials and devices.
著者 (4件):
COMIZZOLI R B
(AT&T Bell Lab., NJ, USA)
,
FRANKENTHAL R P
(AT&T Bell Lab., NJ, USA)
,
MILNER P C
(AT&T Bell Lab., NJ, USA)
,
SINCLAIR J D
(AT&T Bell Lab., NJ, USA)
資料名:
Science
(Science)
巻:
234
号:
4774
ページ:
340-345
発行年:
1986年10月17日
JST資料番号:
E0078A
ISSN:
0036-8075
CODEN:
SCIEA
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
原著論文
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)