文献
J-GLOBAL ID:200902001947138136
整理番号:90A0835313
指標ベクトル試験を用いた組み合わせディジタル回路における単一あるいは多重縮退故障の検出
Detection of all single and multiple stuck-at faults in combinational digital circuits using index vector testing.
著者 (1件):
GUPTA I S
(Indian Inst. Technology, West Bengal, IND)
資料名:
International Journal of Systems Science
(International Journal of Systems Science)
巻:
21
号:
8
ページ:
1489-1502
発行年:
1990年08月
JST資料番号:
E0522A
ISSN:
0020-7721
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
原著論文
発行国:
イギリス (GBR)
言語:
英語 (EN)