文献
J-GLOBAL ID:200902001981401350
整理番号:90A0406545
光電子放出プローブ用の電圧検出器とサブミクロン集束ユニット
Voltage detector and sub-micrometer focusing unit for photoemission probing.
著者 (3件):
CLAUBERG R
(IBM Research Division, Rueschlikon, CHE)
,
BLACHA A
(IBM Research Division, Rueschlikon, CHE)
,
SEITZ H K
(IBM Research Division, Rueschlikon, CHE)
資料名:
Review of Scientific Instruments
(Review of Scientific Instruments)
巻:
61
号:
3
ページ:
1044-1054
発行年:
1990年03月
JST資料番号:
D0517A
ISSN:
0034-6748
CODEN:
RSINAK
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
原著論文
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)