文献
J-GLOBAL ID:200902001990614731
整理番号:93A0722481
Amorphous-to-crystalline transformation and metal induced crystallization phenomena in a-Si:F and a-Si:D:H thin films.
著者 (6件):
EDELMAN F
(Technion-Israel Inst. Technology, Haifa, ISR)
,
CYTERMANN C
(Technion-Israel Inst. Technology, Haifa, ISR)
,
BRENER R
(Technion-Israel Inst. Technology, Haifa, ISR)
,
EIZENBERG M
(Technion-Israel Inst. Technology, Haifa, ISR)
,
WEIL R
(Technion-Israel Inst. Technology, Haifa, ISR)
,
BEYER W
(KFA Juelich, DEU)
資料名:
Kinetics of Phase Transformations
(Kinetics of Phase Transformations)
ページ:
75-80
発行年:
1992年
JST資料番号:
K19930408
ISBN:
1-55899-097-6
資料種別:
会議録 (C)
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)