文献
J-GLOBAL ID:200902002023861466
整理番号:82A0089630
少数キャリア拡散長測定の表面光起電力法の評価
Evaluation of the surface photovoltage method of minority-carrier diffusion-length measurement.
著者 (2件):
ALAM M K
(Univ. Queensland, Australia)
,
YEOW Y T
(Univ. Queensland, Australia)
資料名:
Solid-State Electronics
(Solid-State Electronics)
巻:
24
号:
12
ページ:
1117-1119
発行年:
1981年12月
JST資料番号:
H0225A
ISSN:
0038-1101
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
短報
発行国:
イギリス (GBR)
言語:
英語 (EN)