文献
J-GLOBAL ID:200902002087585950
整理番号:82A0084847
AlMg薄膜抵抗に関する低温測定
Measurements at low temperatures on AlMg thin-film resistors.
著者 (4件):
ANDREONE D
(Inst. Elettrotecnico Nazionale Galileo Ferraris, Italy)
,
ARRI E
(Inst. Elettrotecnico Nazionale Galileo Ferraris, Italy)
,
BOELLA G
(Inst. Elettrotecnico Nazionale Galileo Ferraris, Italy)
,
LACQUANITI V
(Inst. Elettrotecnico Nazionale Galileo Ferraris, Italy)
資料名:
Proceedings of the International Cryogenic Engineering Conference
(Proceedings of the International Cryogenic Engineering Conference)
巻:
8th
ページ:
802-806
発行年:
1980年
JST資料番号:
B0803A
資料種別:
会議録 (C)
記事区分:
原著論文
発行国:
イギリス (GBR)
言語:
英語 (EN)