文献
J-GLOBAL ID:200902015495696382
整理番号:90A0018892
The need for defect monitoring.
著者 (3件):
SILK M G
(Harwell Lab., Oxfordshire, UK)
,
WHAPHAM A D
(Harwell Lab., Oxfordshire, UK)
,
HOBBS C P
(Harwell Lab., Oxfordshire, UK)
資料名:
Non-Destructive Testing, Vol.2
(Non-Destructive Testing, Vol.2)
ページ:
1731-1736
発行年:
1989年
JST資料番号:
K19890420
ISBN:
0-444-87450-X
資料種別:
会議録 (C)
発行国:
オランダ (NLD)
言語:
英語 (EN)