文献
J-GLOBAL ID:200902015503618442
整理番号:86A0328958
走査電子顕微鏡(SEM)像におけるエッジ交さ特性の測定
Measurement of edge-intersecting features in SEM images.
著者 (2件):
RUSS J C
(North Carolina State Univ.)
,
HARE T M
(North Carolina State Univ.)
資料名:
Microbeam Analysis
(Microbeam Analysis)
巻:
20th
ページ:
133-136
発行年:
1985年
JST資料番号:
E0776B
ISSN:
0278-1727
資料種別:
会議録 (C)
記事区分:
原著論文
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)