文献
J-GLOBAL ID:200902015575066207
整理番号:92A0168785
走査型トンネル顕微鏡-マイクロレンズ系の実験的評価
Experimental evaluation of a scanning tunneling microscope-microlens system.
著者 (5件):
MURAY L P
(IBM Research Division, New York)
,
STAUFER U
(IBM Research Division, New York)
,
BASSOUS E
(IBM Research Division, New York)
,
KERN D P
(IBM Research Division, New York)
,
CHANG T H P
(IBM Research Division, New York)
資料名:
Journal of Vacuum Science & Technology. B. Microelectronics and Nanometer Structures
(Journal of Vacuum Science & Technology. B. Microelectronics and Nanometer Structures)
巻:
9
号:
6
ページ:
2955-2961
発行年:
1991年11月
JST資料番号:
E0974A
ISSN:
1071-1023
CODEN:
JVTBD9
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
原著論文
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)