文献
J-GLOBAL ID:200902015597675363
整理番号:85A0451713
双エッジ走査器を用いる精密照準
Precision pointing using a dual-wedge scanner.
著者 (2件):
AMIRAULT C T
(Raytheon Co., Massachusetts)
,
DIMARZIO C A
(Raytheon Co., Massachusetts)
資料名:
Applied Optics
(Applied Optics)
巻:
24
号:
9
ページ:
1302-1308
発行年:
1985年05月01日
JST資料番号:
B0026B
ISSN:
1559-128X
CODEN:
APOPAI
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
原著論文
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)