文献
J-GLOBAL ID:200902015607170575
整理番号:83A0456733
薄層活性化技術を用いて測定した電気接点の腐食と移転
Erosion and transfer in electrical contacts measured using the thin layer activation technique.
著者 (1件):
READ P M
(AERE Harwell, UK)
資料名:
IEEE Transactions on Components, Hybrids, and Manufacturing Technology
(IEEE Transactions on Components, Hybrids, and Manufacturing Technology)
巻:
6
号:
2
ページ:
218-221
発行年:
1983年06月
JST資料番号:
H0255B
ISSN:
0148-6411
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
原著論文
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)