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文献
J-GLOBAL ID:200902015676894453   整理番号:87A0501071

MOSトランジスタの2次元素子シミュレーションからの端子電荷抽出

The extraction of terminal charges from two-dimensional device simulations of MOS transistors.
著者 (3件):
PRENDERGAST E J
(AT&T Bell Lab., PA, USA)
LLOYD P
(AT&T Bell Lab., PA, USA)
DIRKS H
(Univ. Aachen, Aachen, DEU)

資料名:
Compel  (Compel)

巻:号:ページ: 107-114  発行年: 1987年06月 
JST資料番号: H0945A  ISSN: 0332-1649  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 原著論文  発行国: イギリス (GBR)  言語: 英語 (EN)
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