文献
J-GLOBAL ID:200902023271502275
整理番号:93A0195979
ヘテロ構造界面での異方的な粗さ散乱
Anisotropic roughness scattering at a heterostructure interface.
著者 (4件):
TOKURA Y
(NTT Basic Research Lab., Tokyo, JPN)
,
SAKU T
(NTT Basic Research Lab., Tokyo, JPN)
,
TARUCHA S
(NTT Basic Research Lab., Tokyo, JPN)
,
HORIKOSHI Y
(NTT Basic Research Lab., Tokyo, JPN)
資料名:
Physical Review. B. Condensed Matter and Materials Physics
(Physical Review. B. Condensed Matter and Materials Physics)
巻:
46
号:
23
ページ:
15558-15561
発行年:
1992年12月15日
JST資料番号:
D0746A
ISSN:
1098-0121
CODEN:
PRBMDO
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
短報
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)