文献
J-GLOBAL ID:200902051198679670
整理番号:92A0230198
関数近似を利用した全可観測な順序回路のテスト生成
A Test Generation for Observable Sequential Circuits Using Approximate Differentiable Function.
著者 (4件):
前川英嗣
(松下電器産業 中研 電子機器基礎研)
,
萱嶋一弘
(松下電器産業 中研 電子機器基礎研)
,
しめ木泰治
(松下電器産業 中研 電子機器基礎研)
,
新誠一
(筑波大 電子・情報工学系)
資料名:
電子情報通信学会技術研究報告
(IEICE Technical Report (Institute of Electronics, Information and Communication Engineers))
巻:
91
号:
474(FTS91 61-65)
ページ:
7-12
発行年:
1992年02月20日
JST資料番号:
S0532B
ISSN:
0913-5685
資料種別:
会議録 (C)
記事区分:
原著論文
発行国:
日本 (JPN)
言語:
日本語 (JA)