文献
J-GLOBAL ID:200902131010879158
整理番号:97A0205168
自動検査装置を用いたVLSI用の走査設計型検査技術
Scan design oriented test technique for VLSI’s using ATE.
著者 (3件):
OYAMA Y
(ADVANTEST CORP., Saitama, JPN)
,
KANAI T
(ADVANTEST CORP., Saitama, JPN)
,
NIIJIMA H
(ADVANTEST CORP., Saitama, JPN)
資料名:
Proceedings. International Test Conference
(Proceedings. International Test Conference)
巻:
1996
ページ:
453-460
発行年:
1996年
JST資料番号:
E0211B
ISSN:
1089-3539
資料種別:
会議録 (C)
記事区分:
短報
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)