文献
J-GLOBAL ID:200902131028685903
整理番号:97A0779397
ゾル・ゲル法によるPZT,PLZT薄膜の特性評価
Characterization of Sol-Gel Derived PZT and PLZT Thin Films.
著者 (2件):
KURCHANIA R
(Univ. Leeds, Leeds, GBR)
,
MILNE S J
(Univ. Leeds, Leeds, GBR)
資料名:
1996 IEEE 10th International Symposium on Applications of Ferroelectrics, Vol.1
(1996 IEEE 10th International Symposium on Applications of Ferroelectrics, Vol.1)
ページ:
447-450
発行年:
1996年
JST資料番号:
K19970404
ISBN:
0-7803-3356-X
資料種別:
会議録 (C)
記事区分:
原著論文
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)