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著者 (3件)：
資料名：
巻： E85-D 号： 6 ページ： 975-984 発行年： 2002年06月01日
JST資料番号： L1371A ISSN： 0916-8532 資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文 発行国： 日本 (JPN) 言語： 英語 (EN)
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文献
J-GLOBAL ID：200902131032815382
整理番号：02A0516045
データパスの階層的2パターンテスタビリティに対する設計
Design for Hierarchical Two-Pattern Testability of Data Paths.
ALTAF-UL-AMIN M
(Nara Inst. Sci. and Technol., Ikoma-shi, JPN)
,
OHTAKE S
(Nara Inst. Sci. and Technol., Ikoma-shi, JPN)
,
FUJIWARA H
(Nara Inst. Sci. and Technol., Ikoma-shi, JPN)
資料名：
IEICE Transactions on Information and Systems (Institute of Electronics, Information and Communication Engineers)
(IEICE Transactions on Information and Systems (Institute of Electronics, Information and Communication Engineers))
巻： E85-D 号： 6 ページ： 975-984 発行年： 2002年06月01日
JST資料番号： L1371A ISSN： 0916-8532 資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文 発行国： 日本 (JPN) 言語： 英語 (EN)
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