文献
J-GLOBAL ID:200902131045888966
整理番号:97A0557889
インゲンマメの発育段階別のtepary bean由来葉焼病抵抗性の分子マーカーによる分析
Molecular-marker-based Genetic Analysis of Tepary Bean-derived Common Bacterial Blight Resistance in Different Developmental Stages of Common Bean.
著者 (8件):
JUNG G
(Univ. Wisconsin, WI)
,
SKROCH P W
(Univ. Wisconsin, WI)
,
COYNE D P
(Univ. Nebraska, NE)
,
NIENHUIS J
(Univ. Wisconsin, WI)
,
ARNAUD-SANTANA E
(Arroyo Loro Experiment Station, DMA)
,
ARIYARATHNE H M
(Univ. Nebraska, NE)
,
KAEPPLER S M
(Univ. Wisconsin, WI)
,
BASSETT M J
(Univ. Florida, FL)
資料名:
Journal of the American Society for Horticultural Science
(Journal of the American Society for Horticultural Science)
巻:
122
号:
3
ページ:
329-337
発行年:
1997年05月
JST資料番号:
A0213A
ISSN:
0003-1062
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
原著論文
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)