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J-GLOBAL ID:200902131045888966   整理番号:97A0557889

インゲンマメの発育段階別のtepary bean由来葉焼病抵抗性の分子マーカーによる分析

Molecular-marker-based Genetic Analysis of Tepary Bean-derived Common Bacterial Blight Resistance in Different Developmental Stages of Common Bean.
著者 (8件):
JUNG G
(Univ. Wisconsin, WI)
SKROCH P W
(Univ. Wisconsin, WI)
COYNE D P
(Univ. Nebraska, NE)
NIENHUIS J
(Univ. Wisconsin, WI)
ARNAUD-SANTANA E
(Arroyo Loro Experiment Station, DMA)
ARIYARATHNE H M
(Univ. Nebraska, NE)
KAEPPLER S M
(Univ. Wisconsin, WI)
BASSETT M J
(Univ. Florida, FL)

資料名:
Journal of the American Society for Horticultural Science  (Journal of the American Society for Horticultural Science)

巻: 122  号:ページ: 329-337  発行年: 1997年05月 
JST資料番号: A0213A  ISSN: 0003-1062  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 原著論文  発行国: アメリカ合衆国 (USA)  言語: 英語 (EN)
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