文献
J-GLOBAL ID:200902131053914542
整理番号:01A0743295
反射モード近接場光学顕微鏡法におけるパターン構造のトポグラフィック漏話
Topographic cross talk in reflection mode near-field optical microscopy on patterned structures.
著者 (8件):
ROSENBERGER A
(RWTH-Aachen, Aachen, DEU)
,
MUENNEMANN A
(RWTH-Aachen, Aachen, DEU)
,
KIENDL F
(RWTH-Aachen, Aachen, DEU)
,
GUENTHERODT G
(RWTH-Aachen, Aachen, DEU)
,
ROSENBUSCH P
(Univ. Cambridge, Cambridge, GBR)
,
BLAND J A C
(Univ. Cambridge, Cambridge, GBR)
,
EGGERS G
(Freien Univ. Berlin, Berlin, DEU)
,
FUMAGALLI P
(Freien Univ. Berlin, Berlin, DEU)
資料名:
Journal of Applied Physics
(Journal of Applied Physics)
巻:
89
号:
12
ページ:
7727-7729
発行年:
2001年06月15日
JST資料番号:
C0266A
ISSN:
0021-8979
CODEN:
JAPIAU
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
原著論文
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)