文献
J-GLOBAL ID:200902165070138213
整理番号:02A0888276
機械的,熱的と湿度的試験後の受動光デバイスとモジュールの信頼性問題
Reliability Problems of Passive Optical Devices and Modules after Mechanical, Thermal and Humidity Testing.
著者 (3件):
DUERR K
(Alcatel SEL AG, Stuttgart, DEU)
,
PUSCH R
(Alcatel SEL AG, Stuttgart, DEU)
,
SCHMITT G
(Alcatel SEL AG, Stuttgart, DEU)
資料名:
Microelectronics Reliability
(Microelectronics Reliability)
巻:
42
号:
9/11
ページ:
1329-1332
発行年:
2002年09月
JST資料番号:
C0530A
ISSN:
0026-2714
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
原著論文
発行国:
イギリス (GBR)
言語:
英語 (EN)