文献
J-GLOBAL ID:200902165133230905
整理番号:00A0040210
薄くて低Zの試料の非破壊検査用の多重Compton散乱トモグラフの特性評価
Characterization of a Multiplexed Compton Scatter Tomograph for Non-Destructive Inspection of Thin, Low-Z Samples.
著者 (3件):
EVANS B L
(Air Force Inst. Technol., OH)
,
MARTIN J B
(Air Force Inst. Technol., OH)
,
BURGGRAF L W
(Air Force Inst. Technol., OH)
資料名:
Conference Record. 1998 IEEE Nuclear Science Symposium, Vol.2
(Conference Record. 1998 IEEE Nuclear Science Symposium, Vol.2)
ページ:
1000-1005
発行年:
1999年
JST資料番号:
K19990444
ISBN:
0-7803-5022-7
資料種別:
会議録 (C)
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)