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著者 (2件)：
資料名：
巻： 81 号： 4 ページ： 467-472 発行年： 1996年10月
JST資料番号： C0287B ISSN： 0020-7217 資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文 発行国： イギリス (GBR) 言語： 英語 (EN)
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文献
J-GLOBAL ID：200902165201740470
整理番号：96A0994337
金属を含んだ非晶質水素化炭素薄膜の形態,横力及び電気的特性の原子間力顕微鏡調査
Atomic force microscope investigations of topography, lateral force and electrical properties of metal containing amorphous, hydrogenated carbon thin films.
KAZIMIERSKI P
(Polska Akademia Nauk, Lodz, POL)
,
LEHMBERG H
(Technische Hochsch. Darmstadt, Darmstadt, DEU)
資料名：
International Journal of Electronics
(International Journal of Electronics)
巻： 81 号： 4 ページ： 467-472 発行年： 1996年10月
JST資料番号： C0287B ISSN： 0020-7217 資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文 発行国： イギリス (GBR) 言語： 英語 (EN)
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