文献
J-GLOBAL ID:200902212378348411
整理番号:04A0462302
微細化トランジスタの候補となる,部分絶縁化電界効果トランジスタ(PiFET)
A Partially Insulated Field-Effect Transistor (PiFET) as a Candidate for Scaled Transistors
著者 (9件):
YEO K H
(Samsung Electronics Co., Kyungki-Do, KOR)
,
OH C W
(Samsung Electronics Co., Kyungki-Do, KOR)
,
KIM S M
(Samsung Electronics Co., Kyungki-Do, KOR)
,
KIM M S
(Samsung Electronics Co., Kyungki-Do, KOR)
,
LEE S Y
(Samsung Electronics Co., Kyungki-Do, KOR)
,
HAN S Y
(Samsung Electronics Co., Kyungki-Do, KOR)
,
LEE D Y
(Samsung Electronics Co., Kyungki-Do, KOR)
,
YOON B M
(Samsung Electronics Co., Kyungki-Do, KOR)
,
CHUNG I
(Sungkyunkwan Univ., Kyungki-Do, KOR)
資料名:
IEEE Electron Device Letters
(IEEE Electron Device Letters)
巻:
25
号:
6
ページ:
387-389
発行年:
2004年06月
JST資料番号:
B0344B
ISSN:
0741-3106
CODEN:
EDLEDZ
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
短報
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)