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文献
J-GLOBAL ID:200902212472608265   整理番号:06A0568979

ディジタルOBICモニタを用いて観測したメサ構造のアバランシェフォトダイオードの劣化挙動

Degradation Behavior of Avalanche Photodiodes With a Mesa Structure Observed Using a Digital OBIC Monitor
著者 (7件):
TAKESHITA Tatsuya
(NTT Corp., Kanagawa, JPN)
HIROTA Yukihiro
(NTT Corp., Kanagawa, JPN)
ISHIBASHI Tadao
(NTT Electronics Corp., Kanagawa, JPN)
MURAMOTO Yoshifumi
(NTT Corp., Kanagawa, JPN)
ITO Tsuyoshi
(NTT Corp., Kanagawa, JPN)
TOHMORI Yuichi
(NTT Corp., Kanagawa, JPN)
ITO Hiroshi
(NTT Corp., Kanagawa, JPN)

資料名:
IEEE Transactions on Electron Devices  (IEEE Transactions on Electron Devices)

巻: 53  号:ページ: 1567-1574  発行年: 2006年07月 
JST資料番号: C0222A  ISSN: 0018-9383  CODEN: IETDAI  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 原著論文  発行国: アメリカ合衆国 (USA)  言語: 英語 (EN)
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