文献
J-GLOBAL ID:200902212472608265
整理番号:06A0568979
ディジタルOBICモニタを用いて観測したメサ構造のアバランシェフォトダイオードの劣化挙動
Degradation Behavior of Avalanche Photodiodes With a Mesa Structure Observed Using a Digital OBIC Monitor
著者 (7件):
TAKESHITA Tatsuya
(NTT Corp., Kanagawa, JPN)
,
HIROTA Yukihiro
(NTT Corp., Kanagawa, JPN)
,
ISHIBASHI Tadao
(NTT Electronics Corp., Kanagawa, JPN)
,
MURAMOTO Yoshifumi
(NTT Corp., Kanagawa, JPN)
,
ITO Tsuyoshi
(NTT Corp., Kanagawa, JPN)
,
TOHMORI Yuichi
(NTT Corp., Kanagawa, JPN)
,
ITO Hiroshi
(NTT Corp., Kanagawa, JPN)
資料名:
IEEE Transactions on Electron Devices
(IEEE Transactions on Electron Devices)
巻:
53
号:
7
ページ:
1567-1574
発行年:
2006年07月
JST資料番号:
C0222A
ISSN:
0018-9383
CODEN:
IETDAI
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
原著論文
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)