Rchr
J-GLOBAL ID:200901022770096318   Update date: Apr. 24, 2024

Shigemoto Akihiko

シゲモトアキヒコ | Shigemoto Akihiko
Affiliation and department:
Job title: Industrial Scientist
Homepage URL  (1): http://www.wakayama-kg.jp
Research field  (4): Metallic materials ,  Thin-film surfaces and interfaces ,  Crystal engineering ,  Applied materials
Research keywords  (3): 表面物性 ,  金属表面改質 ,  Material Physics
Research theme for competitive and other funds  (6):
  • 2011 - 2014 FRP樹脂成形金型用DLC膜とその大型化技術の開発
  • 2012 - 2013 パルスアーク放電によるイオン液体中金属ナノ粒子の開発
  • 2009 - 2010 耐摩耗性と耐久性に優れたDLCコーティング農薬散布ノズル
  • 2007 - 2010 絞りプレス加工における洗浄レス化技術およびその実用化技術の開発
  • 2007 - 2008 金属プラズマを利用した大面積イオン源の実用化
Show all
Papers (26):
more...
MISC (3):
  • 重本明彦. 公設試によるDLCラウンドロビンテスト : XPSによるsp2/sp3評価. メカニカル・サーフェス・テック. 2021. 8. 24-26
  • 國次真輔, 重本明彦. DLC分類・評価のためのXPSおよびGD-OES分析. 金属. 2021. 91. 5
  • 重本明彦. 公設試におけるDLCラウンドロビンテストの概要. メカニカルサーフェス・テック. 2013. 15. 23-25
Patents (1):
  • 噴板
Education (6):
  • 2002 - 2005 Osaka University Graduate school of Engineering Science Materials Physics Course (Ph.D course)
  • 2002 - 2005 大阪大学大学院 基礎工学研究科 物理系博士後期課程
  • 2001 - 2002 Osaka University Graduate school of Engineering Science Materials Physics Course (Master course)
  • 2001 - 2002 大阪大学大学院 基礎工学研究科 物理系博士前期課程
  • 1996 - 2001 Osaka University School of Engineering Science Materials Physics Course
Show all
Professional career (1):
  • Ph.D (Osaka University)
Work history (8):
  • 2020/04 - 現在 Industrial Technology Center of Wakayama Prefecture Department of Advanced Manufacuring Engineering Scientist
  • 2017/04 - 現在 Industrial Technology Center of Wakayama Prefecture
  • 2016/07 - 2017/03 Industrial Technology Center of Wakayama Prefecture Technical Planning Section Industrial Scientist
  • 2014/04 - 2016/06 New Energy and Industrial Technology Development Ogranization Innovation Promotion Department
  • 2012/04 - 2014/03 Industrial Technology Center of Wakayama Prefecture
Show all
Association Membership(s) (1):
The Surface Finishing Society of Japan
※ Researcher’s information displayed in J-GLOBAL is based on the information registered in researchmap. For details, see here.

Return to Previous Page