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J-GLOBAL ID:200901035472532266   Update date: Aug. 30, 2020

Tagawa Seiichi

タガワ セイイチ | Tagawa Seiichi
Affiliation and department:
MISC (188):
Patents (2):
  • X線回折測定用シリコン基板(極微小試料のためのX線測定用基板)
  • X線回折測定用シリコン基板(極微小試料のためのX線測定用基板)
Works (2):
  • 新産業創造指向インターナノサイエンス
    2005 -
  • 陽電子消滅法を利用した生体高分子ゲルのナノ空間構造解析
    2004 -
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