Iwagaki Tsuyoshi

イワガキツヨシ | Iwagaki Tsuyoshi

Affiliation and department：
Job title： Assistant Professor
Homepage URL (1)： http://www.cd.info.hiroshima-cu.ac.jp/~iwagaki/

Research field (1)： Computer systems

Research keywords (7)： Design for Testability , Test Generation , High Level Synthesis , Asynchronous Circuits , ストカスティックコンピューティング , Dependable Computing , Design and Test of Digital Systems

Research theme for competitive and other funds (3)：

2019 - 2021 確率的演算に基づく非同期式回路の設計と高信頼化に関する研究
2015 - 2019 フィールドでの一時故障への耐性を重視した非同期式回路の高信頼設計に関する研究
2010 - 2013 LSIの多様な要求品質に対応できる数理計画的アプローチによる体系的なテスト生成法

Papers (56)：

Hideyuki Ichihara, Yuki Maeda, Tsuyoshi Iwagaki, Tomoo Inoue. State encoding with stochastic numbers for transient fault tolerant linear finite state machines. Proc. 32nd IEEE Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI and Nanotechnology Systems (DFT '19). 2019. 1-6
Tsuyoshi Iwagaki, Sho Yuasa, Ichihara, Tomoo Inoue. An empirical approach to RTL scan path design focusing on structural interpretation in logic synthesis. Proc. 3rd IEEE International Test Conference in Asia (ITC-Asia '19). 2019. 55-60
Sho Yuasa, Tsuyoshi Iwagaki, Hideyuki Ichihara, Tomoo Inoue. Effective utilization of register-transfer paths based on enhancing multiplexer functions in RTL scan design. Digest of Papers 19th IEEE Workshop on RTL and High Level Testing (WRTLT '18). 2018. 1-6
Tsuyoshi Iwagaki, Sho Yuasa, Hideyuki Ichihara, Tomoo Inoue. Experimental evaluation of test cost reduction by scan chain testing in RTL scan circuits. Digest of Papers 18th IEEE Workshop on RTL and High Level Testing (WRTLT '17). 2017. 1-6
Hideyuki Ichihara, Motoi Fukuda, Tsuyoshi Iwagaki, Tomoo Inoue. State assignment for fault tolerant stochastic computing with linear finite state machines. Proc. 1st International Test Conference in Asia (ITC-Asia '17). 2017. 156-161

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Books (1)：

Broadside transition test generation for partial scan circuits through stuck-at test generation
Springer 2007 ISBN:9780387749099

Lectures and oral presentations (19)：

ドントケア拡大を用いたエラートレラントアプリケーションのための多出力論理関数の簡単化
(FTC研究会 2020)
ストカスティックコンピューティングにおけるシグモイド関数実装法に関する考察
(FTC研究会 2020)
線形有限状態機械に基づくストカスティック回路の耐過渡故障設計について
(機能集積情報システム研究会 2019)
アプリケーションの要求精度に応じた近似全加算器と補正機構による乗算器の設計
(機能集積情報システム研究会 2019)
ストカスティックコンピューティングによるニューラルネットワークの耐故障性について
(FTC研究会 2019)

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Education (3)：

2002 - 2004 Nara Institute of Science and Technology Graduate School of Information Science
2000 - 2002 Nara Institute of Science and Technology Graduate School of Information Science
1996 - 2000 Osaka Institute of Technology Faculty of Engineering Department of Electronics Engineering

Professional career (1)：

博士(工学) (奈良先端科学技術大学院大学)

Work history (7)：

2011/08/01 - 広島市立大学大学院情報科学研究科助教
2007/04/01 - 2011/07/31 北陸先端科学技術大学院大学情報科学研究科助教
2010/10 - 2011/02 ウィスコンシン大学マディソン校客員研究員
2005/04/01 - 2007/03/31 北陸先端科学技術大学院大学情報科学研究科助手
2004/10/01 - 2005/03/31 奈良先端科学技術大学院大学情報科学研究科講師(中核的研究機関研究員)

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Awards (6)：

2021/08 - 電子情報通信学会システムと信号処理サブソサイエティ貢献賞
2012/05 - 平成23年度電子情報通信学会論文賞
2011/11 - 11th IEEE Workshop on RTL and High Level Testing Best Paper Award
2008/11 - デザインガイア 2008 ポスタ賞
2005/02 - IEEE 関西支部学生研究奨励賞

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Association Membership(s) (3)：

IEICE , IPSJ , IEEE

※ Researcher’s information displayed in J-GLOBAL is based on the information registered in researchmap. For details, see here.

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