- 2010 - 2011 次世代半導体材料・プロセス基盤(MIRAI)プロジェクト特性ばらつきに対し耐性の高いデバイス・プロセス技術開発
- 2009 - 2010 次世代半導体材料・プロセス基盤(MIRAI)プロジェクト特性ばらつきに対し耐性の高いデバイス・プロセス技術開発
- 2004 - 2010 デバイス特性ばらつきモデリング
- 2008 - 2009 次世代半導体材料・プロセス基盤(MIRAI)プロジェクト特性ばらつきに対し耐性の高いデバイス・プロセス技術開発
- 2007 - 2008 次世代半導体材料・プロセス基盤(MIRAI)プロジェクト特性ばらつきに対し耐性の高いデバイス・プロセス技術開発
- 2006 - 2008 「次世代半導体材料・プロセス基盤プロジェクト(MIRAI)」において計画している産学官連携研究に関する先導調査・特性ばらつきモデルと同シミュレーションに関する調査
- 2006 - 2007 次世代半導体材料・プロセス基盤(MIRAI)プロジェクト 特性ばらつきに対し耐性の高いデバイス・プロセス技術開発
- 2005 - 2006 パワーMOSFETのモデリング
- 2004 - 2006 LSI製造ばらつきモデルを内蔵した統計解析回路シミュレータの研究開発
- 1995 - 2004 パワー MOSFETのモデリング
- 1995 - 2004 Study on modeling of power MOSFET
- 1995 - MOSデバイス特性の計測評価技術の研究
- 1995 - Study on measurement and characterization of MOS devices
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