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J-GLOBAL ID：200901058603005623
Update date: Oct. 20, 2021
Hori Yohei
ホリ ヨウヘイ | Hori Yohei
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Affiliation and department：
National Institute of Advanced Industrial Science and Technology
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Homepage URL (1)：
http://www.aist.go.jp/RESEARCHERDB/cgi-bin/worker_detail.cgi?call=namae&rw_id=Y11375738
Research field (1)：
Computer systems
Papers (42)：
Yasuhiro Ogasahara, Yohei Hori, Toshihiro Katashita, Tomoki Iizuka, Hiromitsu Awano, Makoto Ikeda, Hanpei Koike. Implementation of pseudo-linear feedback shift register-based physical unclonable functions on silicon and sufficient Challenge-Response pair acquisition using Built-In Self-Test before shipping. Integr. 2020. 71. 144-153
Kuniyasu Suzaki, Yohei Hori, Kazukuni Kobara, Mohammad Mannan. DeviceVeil: Robust Authentication for Individual USB Devices Using Physical Unclonable Functions. 49th Annual IEEE/IFIP International Conference on Dependable Systems and Networks (DSN). 2019. 302-314
Yohei Hori, Toshihiro Katashita, Yasuhiro Ogasahara. A 65-nm SOTB implementation of a physically unclonable function and its performance improvement by body bias control. 2017 IEEE SOI-3D-Subthreshold Microelectronics Unified Conference, S3S 2017. 2018. 2018-. 1-3
Toshihiro Katashita, Masakazu Hioki, Yohei Hori, Hanpei Koike. Development of an evaluation platform and performance experimentation of flex power FPGA device. IEICE Transactions on Information and Systems. 2018. E101D. 2. 303-313
Toshihiro Katashita, Yohei Hori, Yasuhiro Ogasahara. Prototype of USB stick-sized PUF module for authentication and key generation. 2017 IEEE 6th Global Conference on Consumer Electronics, GCCE 2017. 2017. 2017-. 1-2
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MISC (6)：
栗原 一徳, 堀 洋平, 片下 敏宏, 垣田 一成, 田中 康裕, 吉田 学. Stability of organic physically unclonable function for voltage fluctuation. 電子情報通信学会技術研究報告 = IEICE technical report : 信学技報. 2016. 116. 281. 39-42
大内 真一, 柳 永勛, 堀 洋平, 入沢 寿史, 更田 裕司, 森田 行則, 右田 真司, 森 貴洋, 中川 格, 塚田 順一, et al. SRAM PUF using Polycrystalline Silicon Channel FinFET and Its Evaluation. 電子情報通信学会技術研究報告 = IEICE technical report : 信学技報. 2016. 116. 172. 83-87
大内真一, LIU Y.X, 堀洋平, 入沢寿史, 更田裕司, 森田行則, 右田真司, 森貴洋, 中川格, 塚田順一, et al. 結晶シリコンチャネルFinFETと集積可能な多結晶シリコンチャネルFinFETを用いた高信頼・コンパクトなPUF回路とその評価方法. 応用物理学会春季学術講演会講演予稿集(CD-ROM). 2016. 63rd. ROMBUNNO.20A-S422-4
藤本 大介, 田中 大智, 三浦 典之, 永田 真, 林 優一, 本間 尚文, 青木 孝文, 堀 洋平, 片下 敏広, 﨑山 一男, et al. チップ内外での電源電圧取得によるサイドチャネル漏洩情報の一考察. 暗号と情報セキュリティシンポジウム. 2014. 2A3-3
藤本 大介, 片下 敏広, 佐々木 明彦, 堀 洋平, 佐藤 証, 永田 真. 容量充電モデルを用いた高速なサイドチャネル攻撃評価手法. 暗号と情報セキュリティシンポジウム. 2012. 1C2-6
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Professional career (1)：
博士(工学) (筑波大学大学院)
Association Membership(s) (2)：
電子情報通信学会
, 情報処理学会
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