Art
J-GLOBAL ID：200902000023081611   Reference number：83A0008144

不揮発性メモリ評価におけるフラットバンド電圧の直接測定装置の試作とマイクロコンピュータの導入

Author (2)：
SUZUKI HIROMI

About SUZUKI HIROMI

(静岡大電子工研)

About 静岡大電子工研

, 
ANDO TAKAO

About ANDO TAKAO

(静岡大電子工研)

About 静岡大電子工研


Material：
静岡大学電子工学研究所研究報告  (Bulletin of the Research Institute of Electronics, Shizuoka University)

About 静岡大学電子工学研究所研究報告


Volume： 17  Issue： 1  Page： 45-54  Publication year： Sep. 16, 1982 
JST Material Number： S0453A  ISSN： 0286-3383  Document type： Article
Article type： 原著論文  Country of issue： Japan (JPN)  Language： JAPANESE (JA)
Thesaurus term：
Thesaurus term/Semi thesaurus term
Keywords indexed to the article.
All keywords is available on JDreamIII(charged).
On J-GLOBAL, this item will be available after more than half a year after the record posted. In addtion, medical articles require to login to MyJ-GLOBAL.
microcomputer

About microcomputer

,...
Semi thesaurus term：
Thesaurus term/Semi thesaurus term
Keywords indexed to the article.
All keywords is available on JDreamIII(charged).
On J-GLOBAL, this item will be available after more than half a year after the record posted. In addtion, medical articles require to login to MyJ-GLOBAL.
MNOS structure

About MNOS structure

,...
   To see more with JDream III (charged).   {{ this.onShowAbsJLink("http://jdream3.com/lp/jglobal/index.html?docNo=83A0008144&from=J-GLOBAL&jstjournalNo=S0453A") }}
JST classification (1)：
JST classification
Category name(code) classified by JST.
Memory units 
(JC04060F)

About Memory units

Terms in the title (6)：
Terms in the title
Keywords automatically extracted from the title.
不揮発性メモリ

About 不揮発性メモリ

, 
評価

About 評価

, 
フラットバンド電圧

About フラットバンド電圧

, 
測定装置

About 測定装置

, 
試作

About 試作

, 
マイクロコンピュータ

About マイクロコンピュータ


Return to Previous Page

TOP

BOTTOM