Art

J-GLOBAL ID：200902000024689877   Reference number：93A0723484

Electronic structure of planar faults and point defects in high temperature intermetallics.

Author (2)： MACLAREN J M (Tulane Univ., LA) ,  WOODWARD C (U.E.S Inc., OH)
Material： Applications of Multiple Scattering Theory to Materials Science  (Appl Mult Scatt Theory Mater Sci)
Page： 387-392  Publication year： 1992 
JST Material Number： K19930419  ISBN： 1-55899-147-6  Document type： Proceedings
Country of issue： United States (USA)  Language： ENGLISH (EN)