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J-GLOBAL ID：200902000031409049   Reference number：92A0034749

Emission Microscopy Applied to Optoelectronic Emitter Failure Analysis.

Author (2)： MANN R S (Hewlett-Packard Components Group, CA) ,  MCELFRESH D K (Hewlett-Packard Components Group, CA)
Material： Proceedings of the International Symposium for Testing and Failure Analysis  (Proceedings. ISTFA)
Volume： 1991  Page： 353-362  Publication year： 1991 
JST Material Number： D0658B  Document type： Proceedings
Country of issue： United States (USA)  Language： ENGLISH (EN)