Art

J-GLOBAL ID：200902000038176686   Reference number：89A0196609

Operating characteristics and elevated temperature lifetests of focused ion beam micromachined transverse junction stripe lasers.

集束イオンビーム微細加工横接合ストライプレーザの動作特性と温度上昇による寿命試験

Author (7)： DEFREEZ R K (Oregon Graduate Center, OR, USA) ,  PURETZ J (Oregon Graduate Center, OR, USA) ,  ORLOFF J (Oregon Graduate Center, OR, USA) ,  ELLIOTT R A (Oregon Graduate Center, OR, USA) ,  NAMBA H (Mitsubishi Electric Corp., Itami, JPN) ,  OMURA E (Mitsubishi Electric Corp., Itami, JPN) ,  NAMIZAKI H (Mitsubishi Electric Corp., Itami, JPN)
Material： Applied Physics Letters  (Appl Phys Lett)
Volume： 53  Issue： 13  Page： 1153-1155  Publication year： Sep. 26, 1988 
JST Material Number： H0613A  ISSN： 0003-6951  CODEN： APPLAB  Document type： Article
Article type： 短報  Country of issue： United States (USA)  Language： ENGLISH (EN)

Thesaurus term： semiconductor laser ,...
Semi thesaurus term： CCC laser

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JST classification (1)： Semiconductor lasers  (BD04070L)

Terms in the title (6)： 集束イオンビーム ,  微細加工 ,  レーザ ,  動作特性 ,  温度上昇 ,  寿命試験