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J-GLOBAL ID：200902000112540557   Reference number：83A0061192

Sensitivity calculations for multielemental trace analysis by synchrotron radiation induced X-ray fluorescence.

シンクロトロン放射誘起X線けい光による多元素こん跡分析に対する感度計算

Author (1)： GORDON B M (Brookhaven National Lab., NY)
Material： Nuclear Instruments & Methods in Physics Research  (Nucl Instrum Methods Phys Res)
Volume： 204  Issue： 1  Page： 223-229  Publication year： Dec. 15, 1982 
JST Material Number： D0208A  ISSN： 0029-554X  CODEN： NIMRD9  Document type： Article
Article type： 原著論文  Country of issue： Netherlands (NLD)  Language： ENGLISH (EN)

Thesaurus term： synchrotron radiation ,...

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JST classification (1)： Other phsical analysis  (CC03014E)

Terms in the title (8)： シンクロトロン放射 ,  誘起 ,  X線 ,  けい光 ,  元素 ,  こん跡分析 ,  感度 ,  計算