Art

J-GLOBAL ID：200902000132553230   Reference number：81A0007423

Tunable laboratory extended X-ray absorption fine structure system.

研究室用チューナブル広域X線吸収微細構造測定系

Author (4)： COHEN G G (State Univ. New York) ,  FISCHER D A (State Univ. New York) ,  COLBERT J (State Univ. New York) ,  SHEVCHIK N J (State Univ. New York)
Material： Review of Scientific Instruments  (Rev Sci Instrum)
Volume： 51  Issue： 3  Page： 273-277  Publication year： Mar. 1980 
JST Material Number： D0517A  ISSN： 0034-6748  CODEN： RSINAK  Document type： Article
Article type： 原著論文  Country of issue： United States (USA)  Language： ENGLISH (EN)

Thesaurus term： EXAFS ,...

   To see more with JDream III (charged).   {{ this.onShowAbsJLink("http://jdream3.com/lp/jglobal/index.html?docNo=81A0007423&from=J-GLOBAL&jstjournalNo=D0517A") }}

JST classification (1)： X-ray instruments and techniques  (BA02060D)

Terms in the title (4)： 研究 ,  チューナ ,  広域X線吸収微細構造 ,  測定系