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J-GLOBAL ID：200902000138806270   Reference number：81A0183064

Self-consistent calculation of Compton profiles, x-ray structure factors, and band structure for silicon.

シリコンのComptonプロフィル,X線構造因子及びバンド構造の自己無どう着計算

Author (2)： HEATON R (Oklahoma State Univ.) ,  LAFON E (Oklahoma State Univ.)
Material： Journal of Physics. C. Solid State Physics  (J Phys C)
Volume： 14  Issue： 4  Page： 347-351  Publication year： Feb. 10, 1981 
JST Material Number： B0914A  ISSN： 0022-3719  CODEN： JPSOAW  Document type： Article
Article type： 原著論文  Country of issue： United Kingdom (GBR)  Language： ENGLISH (EN)

Thesaurus term： SCF method ,...
Semi thesaurus term： electric charge density

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JST classification (3)： Electronic structure of crystalline semiconductors  (BM02060N) ,  X-ray diffraction methods  (BK01020I) ,  Interactions with X-rays  (BK16030H)

Terms in the title (7)： シリコン ,  プロフィル ,  X線構造 ,  因子 ,  バンド構造 ,  自己 ,  計算